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廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）
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女士 (市場(chǎng)經(jīng)理) |
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| AEC-Q100認(rèn)證怎么做 如何通過(guò)AECQ100認(rèn)證進(jìn)入汽車(chē)市場(chǎng) |
對(duì)于二級(jí)供應(yīng)商，甚至是三級(jí)四級(jí)的供應(yīng)商來(lái)說(shuō)，要在汽車(chē)行業(yè)取得市場(chǎng)優(yōu)勢(shì)，打入各Tier1車(chē)電大廠供應(yīng)鏈，必須取得兩張門(mén)票，*一張門(mén)票，要符合零失效(Zero Defect)的供應(yīng)鏈質(zhì)量管理標(biāo)準(zhǔn)ISO/TS 16949規(guī)范(Quality Management System)。第二張是由北美汽車(chē)產(chǎn)業(yè)所推的AEC-Q系列認(rèn)證。如果成功完成AECQ文件各要點(diǎn)需要的測(cè)試結(jié)果，那么將允許供應(yīng)商聲稱他們的零件通過(guò)了AECQ認(rèn)證。供應(yīng)商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認(rèn)證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實(shí)現(xiàn)的時(shí)候才能認(rèn)為零件通過(guò)了AECQ認(rèn)證.
[AEC-Q100]是針對(duì)于集成電路應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理;
[AEC-Q101]針對(duì)于分立器件;
[AEC-Q102]針對(duì)于LED、激光器等光電器件（2017）；
[AEC-Q104]針對(duì)于多芯片模組（2018）；
[AEC-Q200]針對(duì)于被動(dòng)元件；
AEC-Q100認(rèn)證多采用軍用電子器件環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)和汽車(chē)電子通用環(huán)境適應(yīng)性標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行器件的老煉實(shí)驗(yàn)。目前國(guó)內(nèi)能做的機(jī)構(gòu)不多，加上費(fèi)用較高，但能夠取得AEC-Q100認(rèn)證的合格報(bào)告，企業(yè)將會(huì)在市場(chǎng)同行中占有明顯優(yōu)勢(shì)，企業(yè)可以根據(jù)自身的需求和客戶要求選擇做部分項(xiàng)目，隨著汽車(chē)市場(chǎng)的發(fā)展，要想盡早進(jìn)入汽車(chē)領(lǐng)域并且立足，AECQ認(rèn)證將會(huì)是企業(yè)的*選。
IC設(shè)計(jì)業(yè)者，該如何進(jìn)入車(chē)用IC供應(yīng)鏈呢?將驗(yàn)證流程分為5個(gè)部分進(jìn)行簡(jiǎn)易說(shuō)明：1. Design House: 可靠度實(shí)驗(yàn)前后的功能測(cè)試，此部分需IC設(shè)計(jì)公司與測(cè)試廠討論執(zhí)行方式，與一般IC驗(yàn)證主要差異在功能測(cè)試的溫度設(shè)定，此部分稍后會(huì)進(jìn)行說(shuō)明。
2.Wafer Foundry:
D測(cè)試組為晶圓廠在Wafer Level的可靠度驗(yàn)證，F(xiàn)abless的IC業(yè)者須與委托制造的晶圓廠取得相關(guān)資料。
3.Reliability Test : AEC將其分為:
. 測(cè)試組A : 加速環(huán)境應(yīng)力實(shí)驗(yàn)
. 測(cè)試組 B : 加速工作壽命模擬
. 測(cè)試組 C : 封裝完整性測(cè)試
. 測(cè)試組E : 電性驗(yàn)證測(cè)試
. 測(cè)試組 G : 空腔/密封型封裝完整性測(cè)試
4.Design Verification:
部分測(cè)試組 E為設(shè)計(jì)時(shí)間的失效模式與影響分析評(píng)估，成品階段的特性驗(yàn)證以及故障涵蓋率計(jì)算。
5.Production Control:
測(cè)試組F的區(qū)域生產(chǎn)階段的質(zhì)量控管，包含良率/Bin使用統(tǒng)計(jì)手法進(jìn)行控管及制定標(biāo)準(zhǔn)處理流程。
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