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浙江托普云農(nóng)科技股份有限公司
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| 植物冠層圖像分析儀圖片參數(shù) |
植物冠層包含了葉、莖、花、果實等器官，不僅塑造了植株豐富的外觀形態(tài)，而且也間接反映了植株的生長狀況。要研究植物冠層就要考慮到冠層的葉面積、葉傾角、光能有效輻射、孔隙度等指標參數(shù)，然而太陽位置和太陽光照強度在一天之中不斷變化，另外冠層結構的復雜也給植物冠層的研究分析增加了難度。因此，研發(fā)一款分析植物冠層的儀器——冠層圖像分析儀是十分有必要的。
我們可以通過分析研究植物冠層對作物進行合理的管理調控和估產(chǎn)，而冠層圖像分析儀的作用就是測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、冠層內外的光合有效輻射（PAR）等參數(shù)。該儀器采用比爾定律以及冠層孔隙率與冠層結構相關的原理，對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率，并計算出冠層結構參數(shù)，這是各類測量方法中較為精確和省力、省時、快捷便利的方法。
冠層圖像分析儀通過圖像傳感器測量測量冠層不同高度，可得到群體內光透過率和葉面積指數(shù)垂直分布圖。配置的專用分析軟件可對圖像進行分割，并只對有效圖像進行分析，使得測量的數(shù)據(jù)更加準確。在現(xiàn)代農(nóng)業(yè)研究中，應用該儀器研究作物冠層的結構特性，已經(jīng)是一項重要的課題，也是農(nóng)業(yè)科學種植的重要依據(jù)。 |
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