什么是HALT試驗(yàn)
HALT（Highly AcceleratedLife Test）的全稱是高加速壽命試驗(yàn)，是一種試驗(yàn)方法（思想），采用的環(huán)境應(yīng)力比加速試驗(yàn)更加嚴(yán)酷。主要應(yīng)用于產(chǎn)品開發(fā)階段，它能以較短的時間促使產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷暴露出來，從而為我們做設(shè)計(jì)改進(jìn)，提升產(chǎn)品可靠性提供依據(jù)。
HALT試驗(yàn)其實(shí)是硬件工程比較恐懼的試驗(yàn)：因?yàn)橥鶎?shí)驗(yàn)過程中，會出現(xiàn)不少問題。會有一種深陷泥潭不能自拔的感覺。
1、由于HALT試驗(yàn)是產(chǎn)品開發(fā)階段，產(chǎn)品相對穩(wěn)定度還不夠的時間段，出問題的概率還是比較高的。
2、而且是不按照器件規(guī)格進(jìn)行的試驗(yàn)，如果不出問題，則會一直做到試驗(yàn)設(shè)備的極限。直到找到產(chǎn)品的薄弱點(diǎn)，并且分析出原因，給出整改意見。直到達(dá)到現(xiàn)有設(shè)計(jì)的極限。
3、問題往往難復(fù)現(xiàn)，根因難于挖掘。
高加速壽命試驗(yàn)(HALT)是由美國Hobbs工程公司總裁GreggKHobbs博士首先提出來的。從90年代開始,HALT獲得推廣應(yīng)用。HALT的*大特點(diǎn)是時間上的壓縮,即在短短的幾天內(nèi)模擬一個產(chǎn)品的整個壽命期間可能遇到的情況。
但其實(shí)HALT試驗(yàn)?zāi)鼙┞冻霎a(chǎn)品的短板，開發(fā)階段發(fā)現(xiàn)和解決硬件問題的成本代價，要比發(fā)貨后發(fā)現(xiàn)問題再去解決，成本代價要小很多。
此時設(shè)計(jì)師頭疼去發(fā)現(xiàn)和解決問題，是為了未來產(chǎn)品上市的良好質(zhì)量保證，需要嚴(yán)謹(jǐn)態(tài)度去面對問題，感謝問題。不能捂問題。
與傳統(tǒng)的可靠性試驗(yàn)相比,HALT試驗(yàn)的目的是激發(fā)故障,即把產(chǎn)品潛在的缺陷激發(fā)成可觀測的故障。因此,它不是采用一般模擬實(shí)際使用環(huán)境進(jìn)行的試驗(yàn) , 而是人為施加步進(jìn)應(yīng)力 ,在遠(yuǎn)大于技術(shù)條件規(guī)定的極限應(yīng)力下快速進(jìn)行試驗(yàn) ,找出產(chǎn)品的各種工作極限與破壞極限。目前,雖然還沒有相關(guān)的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) ,但國外在航空、汽車及電子等高科技產(chǎn)業(yè)都廣泛開展了 HALT 項(xiàng)目 ,已有相當(dāng)成效。
試驗(yàn)條件的要求
做HALT試驗(yàn)的設(shè)備必須能夠提供振動應(yīng)力和熱應(yīng)力，并滿足下列指標(biāo)：
振動應(yīng)力：必須能夠提供6個自由度的隨機(jī)振動；振動能量帶寬為2Hz～10000Hz；振臺在無負(fù)載情況下至少能產(chǎn)生65Grms的振動輸出。
（注：g值是一個重力加速度值，就是1G=9.8m/s2, 而Grms是個積累的物理量，類似于能量一樣，在一定的頻率范圍內(nèi)對PSD積分（PSD：功率譜密度（power spectral density）、近似的算法就是求面積，在將面積開方就是你所需要的了），然后將積分的結(jié)果開方，也叫加速度總均方根值。）
熱應(yīng)力：目標(biāo)是為產(chǎn)品創(chuàng)造快速溫度變化的環(huán)境，要求至少45℃/min的溫變率；溫度許可范圍至少為－90℃～＋170℃。
試驗(yàn)中的試驗(yàn)項(xiàng)目分類
HALT試驗(yàn)中的試驗(yàn)項(xiàng)目分為以下各類，試驗(yàn)中按下面的順序進(jìn)行試驗(yàn)：
（1）試驗(yàn)前常溫工作測試；
（2）步 |
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