標(biāo)題：JIMA分辨率測(cè)試卡（二維和三維）
關(guān)鍵詞：微焦點(diǎn)CT系統(tǒng)分辨率測(cè)試卡，CT分辨率測(cè)試卡，JIMA卡，JIMA測(cè)試卡，分辨率測(cè)試卡，微焦點(diǎn)分辨率測(cè)試卡，焦點(diǎn)尺寸測(cè)試卡，分辨率測(cè)試圖樣、分辨率測(cè)試儀器，分辨率測(cè)試方法，納焦點(diǎn)分辨率測(cè)試卡，微納焦點(diǎn)分辨率測(cè)試卡，JIMA Chart
JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。
型號(hào)：RT RC-02
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
圖案布局：L型
線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
型號(hào)：JIMA RT RC-05
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
圖案布局：T型（3-10μm）
I 型（15-50μm）
線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
型號(hào)：JIMA RT RC-04
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm
圖案布局：T型
線/空間尺寸：32種規(guī)格圖案,
0.1μm,0.15μm,0.2μm,0.25μm,0.3μm,0.35μm,0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm, 0.8μm,
0.9μm,1.0μm,1.5μm,2.0μm,3.0μm,4.0,5.0μm,6.0μm，7.0μm,8.0μm,9.0μm,10.0μm,
型號(hào)：JIMA RT CT-01 （專用于三維CT系統(tǒng)分辨率測(cè)試）
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
圖案布局：T型
線/空間尺寸：5種規(guī)格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm
林帝科技公司為滿足用戶需求，現(xiàn)可提供各種用于測(cè)試系統(tǒng)分辨率的JIMA測(cè)試卡，如果您對(duì)上述測(cè)試卡感興趣，請(qǐng)隨時(shí)與我們聯(lián)系。 |
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