適用碳化硅二極管、IGBT模塊MOS管等器件的時間參數(shù)測試。
主要技術(shù)參數(shù)：
IGBT開關(guān)特性測試
開關(guān)時間測試條件
Ic：50A～1000A Vce：200V～2000V
Vgs：-10V～＋20V Rg：1R～100R可調(diào)(可選擇4檔及外接)
負 載：感性負載阻性負載可切換
電感范圍：100uH，200uH，500uH，1000uH
電阻范圍：0.5R、1R、2R、4R
IGBT開關(guān)特性測試參數(shù)
開通延遲td(on): 20nS -10uS
上升時間tr: 20nS -10uS
開通能量Eon： 0.1-1000mJ
關(guān)斷延遲時間td(off)：20 nS -10uS
下降時間 tf： 20nS -10uS
關(guān)斷能量Eoff：0.1-1000mJ
二極管反向恢復特性測試
FRD測試條件：正向電流IF：50A～1000A；反向電壓 Vr：200V~2000V；-di/dt：100A/us～10000A/us ；負載：感性負載可選
電感范圍：100uH，200uH，500uH，1000uH
FRD測試參數(shù)
反向恢復時間trr：20nS -2uS
反向恢復電荷Qc：10nC~10uC；
反向恢復電流Irm：50A~1000A
反向恢復損耗Erec：0.1mJ～1000mJ
產(chǎn)品優(yōu)勢
國內(nèi)唯一能對二極管、IGBT模塊、MOS管等器件的時間參數(shù)實施測試的設(shè)備。 |
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