PARMI在線3D AOI Xceed 性能介紹：
1：3D AOI 鐳射頭 (TRSC-I)
1-1.雙鐳射光源投射技術(shù)，四百萬像素的高解析CMOS鏡頭。
1-2.RGBW LED 光源。
1-3.遠心鏡頭。
1-4.超輕量鐳射, 緊湊型設(shè)計。
1-5.業(yè)內(nèi)很高的檢測速度: 65cm2/sec @ 14 x 14umm。
1-6.檢測時間（包含進出板時間）: 以PCB 260mm(L) X 200mm(W) 為基準(zhǔn)的檢測時間為10秒。
PARMI在線3D AOI 特點
1.檢查程序的基本界面構(gòu)成與PARMI SPI檢測程序布局類似，現(xiàn)有使用者輕車熟路，初次使用者簡單易學(xué)。
2.一鍵編程成為可能 單擊該組件所屬類型，其必須的基本檢測項目ROI即可自動生成，無須再度調(diào)試即可進行7個項目的檢測。
3.基本檢查項目：缺件、引腳翹曲、組件尺寸、組件傾斜、 側(cè)翻、立碑、反面。
4.提取高度的測量數(shù)據(jù)，使用者可直觀地檢出在傳統(tǒng)2D AOI上難以檢測的引腳翹曲、組件傾斜等不良。并且針對組件大小、缺件、引腳翹曲、側(cè)立、立碑、反面、極性、錯件、焊點、連錫、引腳缺失、引腳板彎、橋接、文字檢查(OCR, OCV)、色環(huán)電阻、pin等等所有不良類型，均可完美檢出。
5. Xceed 3D AOI——出色的光學(xué)檢測設(shè)備,在世界電子行業(yè)它經(jīng)已獲得廣泛認可。無論是在檢查覆蓋率、靈活性、可支持性以及編程方法等方面，Xceed 3D AOI皆可發(fā)揮其很好的協(xié)同作用。Xceed 3D AOI檢測范圍廣泛，覆蓋焊點缺陷、低對比元件位置、錯件檢查等。 |
|
手機站
您當(dāng)前位置是：產(chǎn)品大全 >> 機械及行業(yè)設(shè)備 >>
電子產(chǎn)品設(shè)備
免責(zé)聲明：以上所展示的信息由會員自行提供，內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由發(fā)布會員負責(zé)，www.qy6.com對此不承擔(dān)任何責(zé)任。如有侵犯您的權(quán)益，請來信通知刪除。
聯(lián)系信息
