日本巖崎 替代品 易恩晶體管特性曲線圖示儀
EN-2005C 功率器件綜合測(cè)試系統(tǒng)
系統(tǒng)概述
西安易恩電氣 EN-2005C是一款很具有代表性的新型半導(dǎo)體晶體管圖示系統(tǒng)，本系統(tǒng)可自動(dòng)生成功率器件的I-V曲線，也可根據(jù)客戶的實(shí)際需求設(shè)置功能測(cè)試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析，IQC來料檢驗(yàn)及高校實(shí)驗(yàn)室等部門有廣泛的應(yīng)用。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測(cè)試時(shí)間是6 to 20ms,通常上百個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線只需要幾秒鐘時(shí)間便可以展現(xiàn)出來，數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)入EXCEL等格式進(jìn)一步分析研究，是一款高效多功能的高端半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備。
本系統(tǒng)使用方便，只需要通過USB或者RS232與電腦連接，通過電腦中友好的人機(jī)界面操作，即可完成測(cè)試。并可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)以EXCEL和WORD的格式保存。系統(tǒng)提供過電保護(hù)功能，門極過電保護(hù)適配器提供了廣泛的診斷測(cè)試。這些自我測(cè)試診斷被編成測(cè)試代碼,以提供自我測(cè)試夾具,在任何時(shí)間都可以檢測(cè)。對(duì)診斷設(shè)備狀態(tài)和測(cè)試結(jié)果提供了可靠地保證。
系統(tǒng)軟件支持
器件測(cè)試程序的生成是通過在一臺(tái)運(yùn)行系統(tǒng)為Windows或WindowsNT的PC機(jī)上USB接口程序?qū)崿F(xiàn)的。該程序提供快速的器件測(cè)試程序生成，具有全屏顯示和增強(qiáng)型編輯幫助。
一種填空式編程方法向用戶提供簡(jiǎn)明、直觀的使用環(huán)境。操作人員只需在提示下，輸入所選器件系列名稱和測(cè)試類型，并選擇所需測(cè)試的參數(shù)，而不必具有專業(yè)計(jì)算機(jī)編程語言知識(shí)。完成一個(gè)器件的測(cè)試程序編制只需幾分鐘的時(shí)間，非�？旖莘奖恪�
概述
EN-2005C測(cè)試系統(tǒng)通過PC機(jī)對(duì)其內(nèi)部功率源、測(cè)試施加條件、測(cè)試具體線路進(jìn)行控制，達(dá)到對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試的目的。在一定的測(cè)試條件下，這些源與條件負(fù)載按照條件準(zhǔn)確的連接，其中包含了大量的負(fù)載、轉(zhuǎn)換功率源和所要求的外部測(cè)試線路。
測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)
IV曲線顯示/局部放大
程序保護(hù)電流/電壓,以防損壞
品種繁多的曲線
可編程的數(shù)據(jù)點(diǎn)對(duì)應(yīng)
增加線性或?qū)?shù)
可編程延遲時(shí)間可減少器件發(fā)熱
保存和重新導(dǎo)入入口程序
保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象
曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到EXCEL
曲線程序和數(shù)據(jù)自動(dòng)存入EXCEL
程序保護(hù)電流/電壓,以防損壞
測(cè)試范圍廣（19總大類，27分類）
系統(tǒng)規(guī)格及技術(shù)指標(biāo)
主極電壓： 1mV-2000V
電壓分辨率： 1mV
主極電流： 0.1nA-50A
擴(kuò)展電流： 100A
電流分辨率： 0.1nA
測(cè)試精度： 0.2%+2LSB
測(cè)試速度： 0.5mS/參數(shù)
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