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X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗方法。X射線探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性，發(fā)現(xiàn)缺欠的一種無損檢測方法。X射線的波長很短一般為0.001～0.1nm。X射線以光速直線傳播，不受電場和磁場的影響，可穿透物質(zhì)，在穿透過程中有衰減，能使膠片感光。
當X射線穿透物質(zhì)時，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復雜的物理過程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強度相應減弱，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實質(zhì)是根據(jù)被檢驗工件與其內(nèi)部缺欠介質(zhì)對射線能量衰減程度不同，而引起射線透過工件后強度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺欠投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過暗室處理后獲得缺欠影像，再對照標準評定工件內(nèi)部缺欠的性質(zhì)和底片級別。 |
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